SEM掃描電鏡和環(huán)境掃描電鏡在功能和應用上存在一些顯著的區(qū)別。

S先，SEM掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的觀察手段。它利用聚焦的高能電子束掃描樣品，通過電子束與物質(zhì)間的相互作用來激發(fā)各種物理信息，進而對這些信息進行收集、放大和再成像，以達到對物質(zhì)微觀形貌的表征。新式的SEM具有極高的分辨率和放大倍數(shù)，并且景深大、視野大、成像立體效果好。此外，SEM還可以與其他分析儀器結(jié)合，實現(xiàn)在觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。SEM在科學研究領域具有廣泛的應用，如巖土、石墨、陶瓷及納米材料的研究等。

另一方面，環(huán)境掃描電鏡則采用了多級真空壓差技術，使得在保持電子槍和鏡筒的高真空狀態(tài)下，樣品室內(nèi)可以保持較高的氣壓、濕度和壓力，并且溫度可調(diào)。這種設計使得環(huán)境掃描電鏡能夠直接觀察不導電的樣品，特別是新鮮活體生物樣品，解決了生物樣品失水變形的問題。因此，環(huán)境掃描電鏡在生物醫(yī)學領域有廣泛的應用，如生物標本的超微結(jié)構分析、細胞成像、病毒顆粒研究以及生物分子藥物的研究等。此外，環(huán)境掃描電鏡還可以觀測大尺寸非平面樣品的表面形貌、厚度和其他形狀的位置信息，因此在材料領域也有重要的應用。

總的來說，SEM掃描電鏡和環(huán)境掃描電鏡的主要區(qū)別在于其工作環(huán)境和樣品處理要求。SEM掃描電鏡主要適用于各種固態(tài)材料的微觀形貌觀察和分析，而環(huán)境掃描電鏡則特別適用于觀察新鮮活體生物樣品和需要保持特定環(huán)境條件的樣品。兩者在科學研究和技術應用中各自發(fā)揮著重要的作用。